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芯片金属键合技术的未来趋势与芯片清洗剂介绍

👁 1733 Tags:芯片金属键合技术芯片封装清洗

一、芯片金属键合技术原理

芯片金属键合技术是将芯片与其他部件(如基板等)通过金属间的相互作用连接在一起的技术。

(一)键合的基本过程 在传统的芯片键合过程中,首先要对键合的表面进行处理,这包括清洁等操作以确保表面没有杂质等干扰因素。例如在半导体制造的芯片键合工艺中,若表面有污垢或氧化物等,会影响后续键合效果。对于金属键合而言,通常会采用蒸发、溅射等镀膜工艺在芯片或基板的键合表面形成金属薄膜层,常见的金属有金、银、铝等。然后将芯片与对应的部件进行贴合,在一定的条件下使金属原子间形成键合。比如在某些工艺中,当采用金 - 金键合时,在合适的温度、压力和气氛环境下,金原子之间会发生扩散等相互作用从而实现键合。

(二)不同金属键合方式的原理

  • 热压键合:这种方式是在一定的温度和压力下促使金属原子相互扩散和紧密接触实现键合。以金 - 铝热压键合为例,加热到适当温度时,金和铝原子的活性增加,在压力的作用下,两种金属原子相互扩散,在界面处形成合金层,从而实现芯片与基板或者其他部件的连接。一般来说,温度可能在几百摄氏度,压力根据具体的设备和工艺要求会有所不同,例如在一些小型芯片的键合中压力可能在几十兆帕到几百兆帕之间。

  • 超声键合:利用超声振动能量使金属表面的氧化膜破裂并促使金属原子间的键合。当超声振动施加到键合工具(如键合丝与芯片的键合点)时,振动能量使金属表面的氧化层破碎并被去除,使得纯净的金属表面相互接触,然后在压力的作用下,金属原子之间形成键合。例如在铝丝键合中,超声振动频率可能在几十千赫兹到几百千赫兹之间,通过超声换能器将电能转换为机械能,使铝丝与芯片的铝焊盘之间实现良好的键合。

(三)与其他键合技术的比较原理差异 与聚合物键合(如环氧树脂键合)相比,金属键合具有更好的导电性。环氧树脂键合主要依靠高分子聚合物的黏附作用,它是一种物理黏附过程,而金属键合是基于金属原子间的化学键合(如金属键等),能够提供更可靠的电连接。例如在一些高频电路芯片的封装中,需要良好的导电性,金属键合就更具优势。与倒装芯片键合技术相比,虽然倒装芯片键合也涉及到金属连接(如通过焊球凸块连接),但芯片金属键合技术不一定是倒装结构,它可以应用于各种芯片与不同部件的连接场景,并且键合方式可以更加多样化,如除了类似倒装芯片的焊球连接方式,还有平面金属直接键合等方式。

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二、芯片金属键合技术的应用领域

芯片金属键合技术在众多领域都发挥着关键作用。

(一)半导体芯片制造与封装 在半导体产业中,这是一项基础性的技术。从芯片制造角度看,将晶圆上切割下来的芯片键合到引线框架或者印刷电路板(PCB)上是封装过程中的重要步骤。例如在传统的双列直插式封装(DIP)、小外形封装(SOP)等封装形式中,芯片金属键合技术用于将芯片固定在相应的封装基板上,实现芯片与外部电路的初步连接。在更先进的封装技术如系统级封装(SiP)和3D封装中,金属键合技术更是不可或缺。在SiP中,可能会将多个不同功能的芯片(如处理器芯片、存储芯片等)通过金属键合技术集成在一个封装内,实现小型化和多功能化。在3D封装中,金属键合可实现芯片在垂直方向上的堆叠连接,大大提高了封装密度,像英特尔等公司在其先进的3D封装产品中广泛应用了金属键合技术来实现芯片间的高速互联和紧密集成。 (二)光电器件领域 对于光电器件,如发光二极管(LED)、激光二极管等,芯片金属键合技术有助于提高器件的性能和可靠性。在LED制造中,芯片与散热基板之间的金属键合可以有效地将芯片产生的热量传导出去,因为金属具有良好的热导率。例如采用银浆等金属材料进行键合,既可以实现电气连接又能保证热量的快速散发,从而提高LED的发光效率和使用寿命。在垂直腔面发射激光器(VCSEL)器件的制作中,金属键合技术可用于制备特殊的器件结构,例如通过金属键合实现衬底倒扣等工艺,能够在不影响器件原有光学性质的基础上改善其热学性能,提高器件的稳定性和工作效率。 (三)微机电系统(MEMS) MEMS器件通常是微小的机械和电子系统的集成。芯片金属键合技术在MEMS中的应用可以实现不同功能部件之间的连接和集成。例如在加速度计、陀螺仪等MEMS传感器中,将微机械结构(如悬臂梁、质量块等)与传感器的电路芯片通过金属键合连接起来。一方面可以实现信号的传输,另一方面可以保证整个器件的机械稳定性。在微流体芯片中,金属键合技术可用于连接不同的微通道层或者将微流体芯片与驱动电路芯片连接起来,实现对微流体的精确控制和检测等功能。

三、芯片金属键合技术的优势和不足

(一)优势

  • 良好的导电性 金属本身是优良的导电体,通过金属键合技术形成的连接能够为芯片提供稳定可靠的电通路。在现代高速、高频的芯片电路中,例如在5G通信芯片或者高速处理器芯片的封装中,低电阻的金属键合可以确保信号的快速传输,减少信号延迟和衰减。以金 - 金键合为例,其具有极低的接触电阻,能够满足高频率信号传输的要求,保证芯片内部电路与外部电路之间的高效通信。

  • 较高的热导率 金属的热导率较高,这使得芯片在工作过程中产生的热量能够通过金属键合界面有效地传导出去。在功率芯片(如大功率的射频放大器芯片、电力电子芯片等)中,良好的散热是保证芯片正常工作和延长使用寿命的关键因素。例如铝 - 铜键合,铝和铜都具有较高的热导率,能够将芯片的热量快速传递到散热片或者封装基板上,防止芯片因过热而性能下降甚至损坏。

  • 键合强度较高 与一些聚合物键合相比,金属键合形成的连接具有较高的机械强度。在芯片受到外界应力(如在运输过程中的振动、冲击,或者在使用环境中的温度变化引起的热应力等)时,金属键合能够保证芯片与基板或者其他部件之间的连接稳定性。例如在航空航天等对可靠性要求极高的领域使用的芯片,金属键合技术可以确保芯片在恶劣的机械和温度环境下依然能够正常工作。

(二)不足

  • 成本较高 金属键合技术往往需要较为精密的设备和高纯度的金属材料。例如在采用金作为键合金属时,金的价格昂贵,并且在键合过程中,如采用溅射镀膜等工艺制备金薄膜层,设备成本和运行成本都较高。此外,一些金属键合工艺(如热压键合)对工艺参数的控制要求严格,需要高精度的温度和压力控制系统,这也增加了成本。

  • 可能存在金属间化合物的影响 在某些金属键合过程中,如金 - 铝键合,随着时间的推移和在一定的温度、湿度等环境条件下,可能会形成金属间化合物。这些金属间化合物的电学和机械性能可能与原始的金属不同,会影响键合的长期稳定性。例如,金 - 铝键合形成的金属间化合物可能会导致接触电阻增大,从而影响芯片的电学性能。

  • 工艺复杂性 不同的金属键合方式需要不同的工艺条件,如热压键合需要精确控制温度、压力和时间,超声键合需要合适的超声频率和功率等。这些工艺参数的优化和控制较为复杂,并且在大规模生产中要保证每个芯片的键合质量都达到标准是具有挑战性的。例如在大规模生产手机芯片时,要确保每一个芯片的金属键合都符合要求,需要严格的工艺监控和质量控制体系。

四、芯片金属键合技术的发展历程

(一)早期发展阶段 芯片金属键合技术的起源可以追溯到半导体产业的早期。在早期的晶体管和小规模集成电路时代,金属键合技术就开始被应用于将芯片连接到封装基板上。当时的键合技术相对简单,主要采用一些传统的金属连接方法,如采用简单的焊接技术将芯片的引脚与基板上的线路连接起来。例如,早期的二极管和三极管芯片,通过手工焊接或者简单的机器焊接将芯片的金属引脚与印刷电路板连接,这可以看作是芯片金属键合技术的雏形。这个阶段的金属键合主要以满足基本的电气连接和芯片固定为目的,键合的精度和可靠性相对较低。 (二)技术改进与多样化发展阶段 随着半导体技术的发展,芯片的集成度不断提高,对金属键合技术的要求也越来越高。在这个阶段,出现了更多种类的金属键合方式。例如热压键合技术得到了发展,通过精确控制温度和压力,可以实现更加精细的芯片与基板之间的连接。同时,超声键合技术也开始被应用,它解决了一些金属表面氧化膜影响键合质量的问题。在20世纪中叶到后期,随着大规模集成电路的出现,金属键合技术开始朝着提高键合密度、降低接触电阻等方向发展。例如在一些内存芯片的封装中,采用了新的金属键合工艺,提高了芯片与封装基板之间的连接效率,同时减少了信号传输的延迟。 (三)现代先进封装中的发展阶段 进入现代,随着芯片制造技术向纳米级迈进以及先进封装技术(如3D封装、系统级封装等)的兴起,芯片金属键合技术面临着新的挑战和机遇。一方面,键合的精度要求达到了纳米级别,例如在3D封装中芯片之间的垂直金属连接,需要极高的对准精度。像一些先进的键合设备可以实现亚微米甚至纳米级别的对准精度。另一方面,为了满足高性能芯片的需求,金属键合技术在提高导电性、散热性的同时,还要兼顾与其他封装工艺的兼容性。例如在系统级封装中,金属键合技术需要与芯片堆叠、布线等工艺相互配合,实现多功能芯片的一体化封装。同时,新的金属材料和键合工艺也不断涌现,如混合键合技术,它结合了不同的键合机制(如金属 - 金属键合和介电 - 介电键合),进一步提高了封装的性能和集成度。

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五、芯片金属键合技术的未来趋势

(一)更高的键合精度 随着芯片制造工艺不断向更小的尺寸发展,如进入到3纳米甚至更小的制程,芯片金属键合技术需要更高的键合精度。未来,键合设备的对准精度有望进一步提高到纳米甚至亚纳米级别。例如在超精细的芯片堆叠封装中,每层芯片之间的金属连接需要精确到纳米尺度,以确保信号传输的准确性和芯片的整体性能。这将需要研发更加先进的键合设备和工艺控制技术,如高精度的光学对准系统、精确的压力和温度控制技术等。 (二)新材料和新工艺的应用

  • 新材料方面:将会探索更多具有优良性能的金属材料用于键合。除了传统的金、银、铝等金属,可能会有一些合金或者新型金属材料被引入。例如,一些具有高导电性和高热导率的金属合金,它们可能在成本和性能之间取得更好的平衡。此外,还可能会研究金属与其他材料(如碳纳米管、石墨烯等具有特殊电学和热学性能的材料)的复合键合,以实现更优异的综合性能。

  • 新工艺方面:混合键合工艺将不断发展和完善。混合键合能够结合不同键合方式的优势,未来有望在更多类型的芯片封装中得到广泛应用。例如,将金属键合与介电键合更好地结合,在提高电学性能的同时,改善封装的机械稳定性和可靠性。此外,低温键合工艺也将是一个研究热点,因为低温键合可以减少对芯片和其他材料的热损伤,对于一些温度敏感的芯片(如某些高性能的光电器件芯片)非常重要。 (三)与其他封装技术的深度融合 芯片金属键合技术将与其他封装技术(如引线键合、倒装芯片封装等)更加深度地融合。在未来的封装方案中,可能会综合运用多种封装技术,根据芯片的不同功能需求和性能要求,灵活搭配。例如在一个复杂的系统级封装中,对于一些需要高速信号传输的芯片模块采用金属键合技术进行直接连接,而对于一些对成本较为敏感的部分采用引线键合技术。同时,金属键合技术也将与封装设计的优化相结合,从整体上提高芯片封装的性能、降低成本并提高生产效率。例如通过优化芯片布局和键合顺序,实现更高效的封装流程和更好的性能表现。


芯片封装清洗介绍

研发的水基清洗剂配合合适的清洗工艺能为芯片封装前提供洁净的界面条件。

水基清洗的工艺和设备配置选择对清洗精密器件尤其重要,一旦选定,就会作为一个长期的使用和运行方式。水基清洗剂必须满足清洗、漂洗、干燥的全工艺流程。

污染物有多种,可归纳为离子型和非离子型两大类。离子型污染物接触到环境中的湿气,通电后发生电化学迁移,形成树枝状结构体,造成低电阻通路,破坏了电路板功能。非离子型污染物可穿透PC B 的绝缘层,在PCB板表层下生长枝晶。除了离子型和非离子型污染物,还有粒状污染物,例如焊料球、焊料槽内的浮点、灰尘、尘埃等,这些污染物会导致焊点质量降低、焊接时焊点拉尖、产生气孔、短路等等多种不良现象。

这么多污染物,到底哪些才是最备受关注的呢?助焊剂或锡膏普遍应用于回流焊和波峰焊工艺中,它们主要由溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分,焊后必然存在热改性生成物,这些物质在所有污染物中的占据主导,从产品失效情况来而言,焊后残余物是影响产品质量最主要的影响因素,离子型残留物易引起电迁移使绝缘电阻下降,松香树脂残留物易吸附灰尘或杂质引发接触电阻增大,严重者导致开路失效,因此焊后必须进行严格的清洗,才能保障电路板的质量。

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