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3.5D封装技术详细介绍

👁 2807 Tags:2D封装2D+封装2.5D封装


3.5D       

什么是3.5D,最简单的理解就是3D+2.5D,不过,既然有了全新的名称,必然要带有新的技术加持,这个新技术是什么呢?
就是我们前文讲述的混合键和技术Hybrid Bonding。
混合键合技术应用于3D TSV的直接互连,省却了Bump,其界面互连间距可小于10um甚至1um,其互连密度则可达到每平方毫米10000~1000000个点。

这是传统的凸点互连远远无法达到的,因此,在高密度的3D互连中,凸点最终会消失,如下图所示,这一点也是我在以前的文章中阐述过的。

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目前来说,3.5D就是3D+2.5D,再加上Hybrid Bonding技术的加持。

封装技术分类       

由于3.5D的提法已逐渐被业界所普遍接受,我因此也更新一下电子集成技术的分类法,将3.5D放到了列表中。
这样,电子集成技术就分为:2D,2D+,2.5D,3D,3.5D,4D六种,如下图所示:

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在更新的分类方法中,我并未强调Hybrid Bonding混合键合技术,因此,3.5D最简单的理解就是3D+2.5D。

在高密度先进封装的3D互连中,凸点必将消失,混合键合Hybrid Bonding是必然的趋势,因此也就无需特意强调了。

在12种当今最主流的先进封装技术中,只有HBM满足3D+2.5D结构,因此,HBM可以说是第一种真正的3.5D封装技术。

先进芯片封装清洗:

水基清洗的工艺和设备配置选择对清洗精密器件尤其重要,一旦选定,就会作为一个长期的使用和运行方式。水基清洗剂必须满足清洗、漂洗、干燥的全工艺流程。

污染物有多种,可归纳为离子型和非离子型两大类。离子型污染物接触到环境中的湿气,通电后发生电化学迁移,形成树枝状结构体,造成低电阻通路,破坏了电路板功能。非离子型污染物可穿透PC B 的绝缘层,在PCB板表层下生长枝晶。除了离子型和非离子型污染物,还有粒状污染物,例如焊料球、焊料槽内的浮点、灰尘、尘埃等,这些污染物会导致焊点质量降低、焊接时焊点拉尖、产生气孔、短路等等多种不良现象。

这么多污染物,到底哪些才是最备受关注的呢?助焊剂或锡膏普遍应用于回流焊和波峰焊工艺中,它们主要由溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分,焊后必然存在热改性生成物,这些物质在所有污染物中的占据主导,从产品失效情况来而言,焊后残余物是影响产品质量最主要的影响因素,离子型残留物易引起电迁移使绝缘电阻下降,松香树脂残留物易吸附灰尘或杂质引发接触电阻增大,严重者导致开路失效,因此焊后必须进行严格的清洗,才能保障电路板的质量。

研发的水基清洗剂配合合适的清洗工艺能为芯片封装前提供洁净的界面条件。

运用自身原创的产品技术,满足芯片封装工艺制程清洗的高难度技术要求,打破国外厂商在行业中的垄断地位,为芯片封装材料全面国产自主提供强有力的支持。

推荐使用 水基清洗剂产品。



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